Semiconductor measurement technology : workshop on mass flow measurement and control for the semiconductor industry / Robert F. Berg ...
Zapisane w:
Superior document: | NIST special publications 400-101 |
---|---|
HerausgeberIn: | |
Place / Publishing House: | Washington, DC, 2001 |
Rok wydania: | 2001 |
Język: | English |
Seria: | NIST special publications
400-101 |
Opis fizyczny: | IV, 86 S.; Ill., graph. Darst.; 28 cm |
Etykiety: |
Dodaj etykietę
Nie ma etykietki, Dołącz pierwszą etykiete!
|
Egzemplarze
OeAW BAS:IS (Library, Archiv, Collections)
Location: | BASIS-Journals TSP |
Call Numbers: | 100317.400/101 |
Call Number | 2nd Call Number | Opis | Lokalizacja | Remarks | Status | Availability | Order |
---|---|---|---|---|---|---|---|
100317.400/101 | BASIS-Journals TSP | Loan | Dostępne | Zamów |