Semiconductor measurement technology : workshop on mass flow measurement and control for the semiconductor industry / Robert F. Berg ...
محفوظ في:
| Superior document: | NIST special publications 400-101 |
|---|---|
| HerausgeberIn: | |
| Place / Publishing House: | Washington, DC, 2001 |
| سنة النشر: | 2001 |
| اللغة: | English |
| سلاسل: | NIST special publications
400-101 |
| وصف مادي: | IV, 86 S.; Ill., graph. Darst.; 28 cm |
| الوسوم: |
إضافة وسم
لا توجد وسوم, كن أول من يضع وسما على هذه التسجيلة!
|
النسخ
OeAW BAS:IS (Library, Archiv, Collections)
| Location: | BASIS-Journals TSP |
| Call Numbers: | 100317.400/101 |
| Call Number | 2nd Call Number | الوصف | الموقع | Remarks | الحالة | Availability | Order |
|---|---|---|---|---|---|---|---|
| 100317.400/101 | BASIS-Journals TSP | Loan | متاح | أحجز النسخة |