Defect analysis in electron microscopy / M. H. Loretto and R. E. Smallman

Saved in:
Bibliographic Details
Superior document:Science paperbacks 121
VerfasserIn:
Place / Publishing House:London [u.a.] : Chapman and Hall, 1975
Year of Publication:1975
Edition:1. publ.
Language:English
Series:Science paperbacks 121
A Halstead Press Book
Physical Description:IX, 134 S.; Ill., graph. Darst.; 23 cm
Tags: Add Tag
No Tags, Be the first to tag this record!
LEADER 00908nam#a2200325zcb4500
001 990000643130504498
005 20230503184054.0
007 tu
008 010509|1975####|||###########|||#|#eng#c
009 AC03186233
020 |a 047054760X 
020 |a 0412137607 
020 |a 0412137704 
035 |a (AT-OBV)AC03186233 
035 |a AC03186233 
035 |a (Aleph)003181341ACC01 
035 |a (DE-599)OBVAC03186233 
035 |a (EXLNZ-43ACC_NETWORK)990031813410203331 
040 |a MUL  |b ger  |d MUL  |e rakwb 
041 |a eng 
044 |c XA-GB 
100 1 |a Loretto, M. H.  |4 aut 
245 1 0 |a Defect analysis in electron microscopy  |c M. H. Loretto and R. E. Smallman 
250 |a 1. publ. 
264 1 |a London [u.a.]  |b Chapman and Hall  |c 1975 
300 |a IX, 134 S.  |b Ill., graph. Darst.  |c 23 cm 
490 1 |a Science paperbacks  |v 121 
490 0 |a A Halstead Press Book 
700 1 |a Smallman, R. E.  |4 aut 
830 0 |w (AT-OBV)AC00052905  |v 121 
970 1 |c 37 
ADM |b 2023-05-03 18:40:54 Europe/Vienna  |d 20  |f System  |c marc21  |a 2018-12-24 09:47:47 Europe/Vienna  |g false