Rastermikroskopie in der Materialprüfung : Vorträge der 17. Tagung, 27. - 29. März 1996, Halle

Saved in:
Bibliographic Details
Superior document:DVM-Bericht 517
MitwirkendeR:
Place / Publishing House:Berlin : DVM, 1996
Year of Publication:1996
Language:German
Series:DVM-Bericht 517
Physical Description:366 S.; Ill., graph. Darst.
Notes:Literaturangaben
Tags: Add Tag
No Tags, Be the first to tag this record!
LEADER 00818nam#a2200265zcb4500
001 990000638160504498
005 20230505211626.0
007 tu
008 031126|1996####|||###########|||#|#ger#c
009 AC03902790
035 |a (AT-OBV)AC03902790 
035 |a AC03902790 
035 |a (Aleph)003891450ACC01 
035 |a (DE-599)OBVAC03902790 
035 |a (EXLNZ-43ACC_NETWORK)990038914500203331 
040 |a OAW  |b ger  |e rakwb 
041 |a ger 
044 |c XA-DE 
245 0 0 |a Rastermikroskopie in der Materialprüfung  |b Vorträge der 17. Tagung, 27. - 29. März 1996, Halle 
264 1 |a Berlin  |b DVM  |c 1996 
300 |a 366 S.  |b Ill., graph. Darst. 
490 1 |a DVM-Bericht  |v 517 
500 |a Literaturangaben 
710 2 |a Deutscher Verband für Materialforschung und -prüfung  |0 (DE-588)5012150-9  |4 ctb 
830 0 |w (AT-OBV)AC02479366  |v 517 
970 1 |c 37 
ADM |b 2023-05-05 21:16:26 Europe/Vienna  |d 20  |f System  |c marc21  |a 2018-12-24 09:40:29 Europe/Vienna  |g false