Rastermikroskopie in der Materialprüfung : Vorträge der 17. Tagung, 27. - 29. März 1996, Halle

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Bibliographic Details
Superior document:DVM-Bericht 517
MitwirkendeR:
Place / Publishing House:Berlin : DVM, 1996
Year of Publication:1996
Language:German
Series:DVM-Bericht 517
Physical Description:366 S.; Ill., graph. Darst.
Notes:Literaturangaben
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Description
ac_no:AC03902790
Hierarchical level:Monograph