Transient numerical simulation of sublimation growth of SiC bulk single crystals : modeling, finite volume method, results / Peter Philip

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Bibliographic Details
Superior document:Report / Weierstraß-Institut für Angewandte Analysis und Stochastik im Forschungsverbund Berlin e.V. 22
VerfasserIn:
Place / Publishing House:Berlin : WIAS, 2003
Year of Publication:2003
Language:English
Series:Report / Weierstraß-Institut für Angewandte Analysis und Stochastik im Forschungsverbund Berlin e.V. 22
Subjects:
Physical Description:XV, 289 S.; Ill., graph. Darst.; 30 cm
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