Test digitaler Schaltkreise / / Stephan Eggersglüß, Görschwin Fey, Ilia Polian.
Eingebettete Systeme übernehmen zentrale Steueraufgaben im täglichen Leben. In der Energieversorgung oder im Transportwesen würde ein Ausfall der Systeme fatale Auswirkungen haben. Der Nutzer verlässt sich aber auf ein fehlerfreies Funktionieren des Systems. Die Funktionstüchtigkeit der Schaltkreise...
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Eggersglüß, Stephan, author. aut http://id.loc.gov/vocabulary/relators/aut Test digitaler Schaltkreise / Stephan Eggersglüß, Görschwin Fey, Ilia Polian. München ; Wien : De Gruyter Oldenbourg, [2014] ©2014 1 online resource (228 p.) text txt rdacontent computer c rdamedia online resource cr rdacarrier text file PDF rda Frontmatter -- Vorwort -- Inhaltsverzeichnis -- 1. Einleitung -- 2. Grundlagen -- 3. Klassische Fehlermodelle -- 4. Fehlersimulation -- 5. Deterministische Testmustergenerierung -- 6. Sequentielle Testmustergenerierung -- 7. Design-for-Test (DFT) -- 8. Selbsttest und Testdatenkompression -- 9. Diagnose -- 10. Speichertest -- 11. Aktuelle Themen -- A. Symboltabelle -- Literaturverzeichnis -- Index restricted access http://purl.org/coar/access_right/c_16ec online access with authorization star Eingebettete Systeme übernehmen zentrale Steueraufgaben im täglichen Leben. In der Energieversorgung oder im Transportwesen würde ein Ausfall der Systeme fatale Auswirkungen haben. Der Nutzer verlässt sich aber auf ein fehlerfreies Funktionieren des Systems. Die Funktionstüchtigkeit der Schaltkreise zu garantieren, ist das Ziel des Testens – und das mit geringen Kosten, da jeder Chip nach der Produktion separat getestet werden muss. Embedded systems are assuming key control functions in everyday life. Systemic failure in the energy supply or the transport sector could lead to fatal consequences. Users place great reliance on the error-free function of such systems. Guaranteeing the functional capability of digital circuits is the goal of testing – and this aim must be achieved at low cost, since every chip has to be tested separately after production. Mode of access: Internet via World Wide Web. In German. Description based on online resource; title from PDF title page (publisher's Web site, viewed 24. Apr 2022) Digital electronics Testing. Schaltkreis. Testen. digital. COMPUTERS / Computer Science. bisacsh Digital circuit testing. digital circuits. testing. Fey, Görschwin, author. aut http://id.loc.gov/vocabulary/relators/aut Polian, Ilia, author. aut http://id.loc.gov/vocabulary/relators/aut Title is part of eBook package: De Gruyter DGBA Physical Sciences 2000 - 2014 9783110637212 ZDB-23-GPS Title is part of eBook package: De Gruyter EBOOK PACKAGE Complete Package 2014 9783110369526 ZDB-23-DGG Title is part of eBook package: De Gruyter EBOOK PACKAGE Computer Science 2014 9783110369625 ZDB-23-DEI EPUB 9783486990737 print 9783486720136 https://doi.org/10.1524/9783486720143 https://www.degruyter.com/isbn/9783486720143 Cover https://www.degruyter.com/document/cover/isbn/9783486720143/original |
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