Test digitaler Schaltkreise / / Stephan Eggersglüß, Görschwin Fey, Ilia Polian.

• Superior document: Title is part of eBook package: De Gruyter DGBA Physical Sciences 2000 - 2014
• VerfasserIn: Eggersglüß, Stephan,; Fey, Görschwin,; Polian, Ilia,
• Place / Publishing House: München ;, Wien : : De Gruyter Oldenbourg, , [2014]; ©2014
• Year of Publication: 2014
• Language: German
• Physical Description: 1 online resource (228 p.)
• Other title: Frontmatter --; Vorwort --; Inhaltsverzeichnis --; 1. Einleitung --; 2. Grundlagen --; 3. Klassische Fehlermodelle --; 4. Fehlersimulation --; 5. Deterministische Testmustergenerierung --; 6. Sequentielle Testmustergenerierung --; 7. Design-for-Test (DFT) --; 8. Selbsttest und Testdatenkompression --; 9. Diagnose --; 10. Speichertest --; 11. Aktuelle Themen --; A. Symboltabelle --; Literaturverzeichnis --; Index
• Format: Mode of access: Internet via World Wide Web.
• ISBN: 9783486720143; 9783110637212; 9783110369526; 9783110369625
• DOI: 10.1524/9783486720143
• Access: restricted access
• Hierarchical level: Monograph
• Statement of Responsibility: Stephan Eggersglüß, Görschwin Fey, Ilia Polian.

Eingebettete Systeme übernehmen zentrale Steueraufgaben im täglichen Leben. In der Energieversorgung oder im Transportwesen würde ein Ausfall der Systeme fatale Auswirkungen haben. Der Nutzer verlässt sich aber auf ein fehlerfreies Funktionieren des Systems. Die Funktionstüchtigkeit der Schaltkreise zu garantieren, ist das Ziel des Testens – und das mit geringen Kosten, da jeder Chip nach der Produktion separat getestet werden muss. Embedded systems are assuming key control functions in everyday life. Systemic failure in the energy supply or the transport sector could lead to fatal consequences. Users place great reliance on the error-free function of such systems. Guaranteeing the functional capability of digital circuits is the goal of testing – and this aim must be achieved at low cost, since every chip has to be tested separately after production.