X-ray scattering from semiconductor surfaces and interfaces / Elias Vlieg

Saved in:
Bibliographic Details
VerfasserIn:
Place / Publishing House:Alkmaar : Costa, 1988
Year of Publication:1988
Language:English
Physical Description:141 S.; graph. Darst.
Tags: Add Tag
No Tags, Be the first to tag this record!
LEADER 00641nam#a2200229zc#4500
001 990002234240504498
005 20230411185721.0
007 tu
008 980206|1988####|||######m####|||#|#eng#c
009 AC02222795
035 |a (AT-OBV)AC02222795 
035 |a AC02222795 
035 |a (Aleph)002181899ACC01 
035 |a (DE-599)OBVAC02222795 
035 |a (EXLNZ-43ACC_NETWORK)990021818990203331 
040 |a RET  |b ger  |d OAW  |e rakwb 
041 |a eng 
044 |c XA-NL 
100 1 |a Vlieg, Elias  |4 aut 
245 1 0 |a X-ray scattering from semiconductor surfaces and interfaces  |c Elias Vlieg 
264 1 |a Alkmaar  |b Costa  |c 1988 
300 |a 141 S.  |b graph. Darst. 
502 |a Leiden, Univ., phil. Diss., 1988 
ADM |b 2023-04-11 18:57:21 Europe/Vienna  |d 20  |f System  |c marc21  |a 2018-12-24 08:25:10 Europe/Vienna  |g false 
HOL 8 |b YWOAW  |h 20517-B  |c MAG1-3  |8 2217181000004498 
852 8 |b YWOAW  |c MAG1-3  |h 20517-B  |8 2217181000004498 
ITM |9 2217181000004498  |e 1  |m BOOK  |b +YW17381207  |i 20517-B  |2 MAG1-3  |o 19991231  |8 2317180990004498  |f 02  |p 2011-06-17 02:00:00 Europe/Vienna  |h 20517-B  |1 YWOAW  |q 2022-06-08 18:41:47 Europe/Vienna