Elektronenmikroskopische Querschnittsabbildung von Interfaces und Heterostrukturen in Halbleitern

Elektronenmikroskopische Querschnittsabbildung von Interfaces und Heterostrukturen in Halbleitern / Heinz Bartsch ...

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Superior document:Beiträge zur Forschungstechnologie 15
MitwirkendeR:
Bartsch, Heinz
Place / Publishing House:Berlin : Akad.-Verl., 1987
Year of Publication:1987
Language:German
Series:Beiträge zur Forschungstechnologie 15
Physical Description:X, 84 S.; Ill.; 22 cm
Notes:Literaturverz. S. 75 - 79. - Zsfassung in engl. und russ. Sprache
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id 990001871810504498
ctrlnum AC00218426
(AT-OBV)AC00218426
(Aleph)001201821ACC01
(DE-599)OBVAC00218426
(EXLNZ-43ACC_NETWORK)990012018210203331
collection bib_alma
institution YWOAW
building MAG1
fullrecord <?xml version="1.0" encoding="UTF-8"?><collection xmlns="http://www.loc.gov/MARC21/slim"><record><leader>00878nam#a2200277zcb4500</leader><controlfield tag="001">990001871810504498</controlfield><controlfield tag="005">20230203192626.0</controlfield><controlfield tag="007">tu</controlfield><controlfield tag="008">910412|1987####|||###########|||#|#ger#c</controlfield><controlfield tag="009">AC00218426</controlfield><datafield tag="020" ind1=" " ind2=" "><subfield code="a">3055002334</subfield></datafield><datafield tag="035" ind1=" " ind2=" "><subfield code="a">(AT-OBV)AC00218426</subfield></datafield><datafield tag="035" ind1=" " ind2=" "><subfield code="a">AC00218426</subfield></datafield><datafield tag="035" ind1=" " ind2=" "><subfield code="a">(Aleph)001201821ACC01</subfield></datafield><datafield tag="035" ind1=" " ind2=" "><subfield code="a">(DE-599)OBVAC00218426</subfield></datafield><datafield tag="035" ind1=" " ind2=" "><subfield code="a">(EXLNZ-43ACC_NETWORK)990012018210203331</subfield></datafield><datafield tag="040" ind1=" " ind2=" "><subfield code="a">TUW</subfield><subfield code="b">ger</subfield><subfield code="d">UBG</subfield><subfield code="e">rakwb</subfield></datafield><datafield tag="041" ind1=" " ind2=" "><subfield code="a">ger</subfield></datafield><datafield tag="044" ind1=" " ind2=" "><subfield code="c">XA-DDDE</subfield></datafield><datafield tag="245" ind1="0" ind2="0"><subfield code="a">Elektronenmikroskopische Querschnittsabbildung von Interfaces und Heterostrukturen in Halbleitern</subfield><subfield code="c">Heinz Bartsch ...</subfield></datafield><datafield tag="264" ind1=" " ind2="1"><subfield code="a">Berlin</subfield><subfield code="b">Akad.-Verl.</subfield><subfield code="c">1987</subfield></datafield><datafield tag="300" ind1=" " ind2=" "><subfield code="a">X, 84 S.</subfield><subfield code="b">Ill.</subfield><subfield code="c">22 cm</subfield></datafield><datafield tag="490" ind1="1" ind2=" "><subfield code="a">Beiträge zur Forschungstechnologie</subfield><subfield code="v">15</subfield></datafield><datafield tag="500" ind1=" " ind2=" "><subfield code="a">Literaturverz. S. 75 - 79. - Zsfassung in engl. und russ. Sprache</subfield></datafield><datafield tag="700" ind1="1" ind2=" "><subfield code="a">Bartsch, Heinz</subfield><subfield code="4">ctb</subfield></datafield><datafield tag="830" ind1=" " ind2="0"><subfield code="w">(AT-OBV)AC00002407</subfield><subfield code="v">15</subfield></datafield><datafield tag="970" ind1="0" ind2=" "><subfield code="a">UBW-RetroA-K</subfield></datafield><datafield tag="ADM" ind1=" " ind2=" "><subfield code="b">2023-02-03 19:26:26 Europe/Vienna</subfield><subfield code="d">20</subfield><subfield code="f">System</subfield><subfield code="c">marc21</subfield><subfield code="a">2018-12-24 07:31:40 Europe/Vienna</subfield><subfield code="g">false</subfield></datafield><datafield tag="HOL" ind1="8" ind2=" "><subfield code="b">YWOAW</subfield><subfield code="h">80370.15</subfield><subfield code="c">MAG1</subfield><subfield code="8">2216713020004498</subfield></datafield><datafield tag="852" ind1="8" ind2=" "><subfield code="b">YWOAW</subfield><subfield code="c">MAG1</subfield><subfield code="h">80370.15</subfield><subfield code="8">2216713020004498</subfield></datafield><datafield tag="ITM" ind1=" " ind2=" "><subfield code="9">2216713020004498</subfield><subfield code="e">1</subfield><subfield code="m">BOOK</subfield><subfield code="b">+YW14071700</subfield><subfield code="i">80370.15</subfield><subfield code="2">MAG1</subfield><subfield code="o">19991010</subfield><subfield code="8">2316713010004498</subfield><subfield code="f">02</subfield><subfield code="p">2009-07-29 02:00:00 Europe/Vienna</subfield><subfield code="h">80370.15</subfield><subfield code="1">YWOAW</subfield><subfield code="q">2018-12-24 07:40:26 Europe/Vienna</subfield></datafield></record></collection>
record_format marc
spelling Elektronenmikroskopische Querschnittsabbildung von Interfaces und Heterostrukturen in Halbleitern Heinz Bartsch ...
Berlin Akad.-Verl. 1987
X, 84 S. Ill. 22 cm
Beiträge zur Forschungstechnologie 15
Literaturverz. S. 75 - 79. - Zsfassung in engl. und russ. Sprache
Bartsch, Heinz ctb
(AT-OBV)AC00002407 15
YWOAW MAG1 80370.15 2216713020004498
language German
format Book
author2 Bartsch, Heinz
author_facet Bartsch, Heinz
author2_variant h b hb
author2_role MitwirkendeR
title Elektronenmikroskopische Querschnittsabbildung von Interfaces und Heterostrukturen in Halbleitern
spellingShingle Elektronenmikroskopische Querschnittsabbildung von Interfaces und Heterostrukturen in Halbleitern
Beiträge zur Forschungstechnologie
title_full Elektronenmikroskopische Querschnittsabbildung von Interfaces und Heterostrukturen in Halbleitern Heinz Bartsch ...
title_fullStr Elektronenmikroskopische Querschnittsabbildung von Interfaces und Heterostrukturen in Halbleitern Heinz Bartsch ...
title_full_unstemmed Elektronenmikroskopische Querschnittsabbildung von Interfaces und Heterostrukturen in Halbleitern Heinz Bartsch ...
title_auth Elektronenmikroskopische Querschnittsabbildung von Interfaces und Heterostrukturen in Halbleitern
title_new Elektronenmikroskopische Querschnittsabbildung von Interfaces und Heterostrukturen in Halbleitern
title_sort elektronenmikroskopische querschnittsabbildung von interfaces und heterostrukturen in halbleitern
series Beiträge zur Forschungstechnologie
series2 Beiträge zur Forschungstechnologie
publisher Akad.-Verl.
publishDate 1987
physical X, 84 S. Ill. 22 cm
isbn 3055002334
callnumber-raw 80370.15
callnumber-search 80370.15
illustrated Illustrated
work_keys_str_mv AT bartschheinz elektronenmikroskopischequerschnittsabbildungvoninterfacesundheterostruktureninhalbleitern
status_str n
ids_txt_mv (AT-OBV)AC00218426
AC00218426
(Aleph)001201821ACC01
(DE-599)OBVAC00218426
(EXLNZ-43ACC_NETWORK)990012018210203331
hol852bOwn_txt_mv YWOAW
hol852hSignatur_txt_mv 80370.15
hol852cSonderstandort_txt_mv MAG1
itmData_txt_mv 2009-07-29 02:00:00 Europe/Vienna
barcode_str_mv +YW14071700
callnumbers_txt_mv 80370.15
inventoryNumbers_str_mv 80370.15
materialTypes_str_mv BOOK
permanentLibraries_str_mv YWOAW
permanentLocations_str_mv MAG1
inventoryDates_str_mv 19991010
createdDates_str_mv 2009-07-29 02:00:00 Europe/Vienna
holdingIds_str_mv 2216713020004498
hierarchy_parent_id AC00002407
hierarchy_parent_title Beiträge zur Forschungstechnologie 15
hierarchy_sequence 15
is_hierarchy_id AC00218426
is_hierarchy_title Elektronenmikroskopische Querschnittsabbildung von Interfaces und Heterostrukturen in Halbleitern
container_title Beiträge zur Forschungstechnologie 15
container_reference AC00002407
author2_original_writing_str_mv noLinkedField
_version_ 1787551519051087875

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