Staff View: Elektronenmikroskopische Querschnittsabbildung von Interfaces und Heterostrukturen in Halbleitern

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Bibliographic Details
Superior document:	Beiträge zur Forschungstechnologie 15
MitwirkendeR:	Bartsch, Heinz
Place / Publishing House:	Berlin : Akad.-Verl., 1987
Year of Publication:	1987
Language:	German
Series:	Beiträge zur Forschungstechnologie 15
Physical Description:	X, 84 S.; Ill.; 22 cm
Notes:	Literaturverz. S. 75 - 79. - Zsfassung in engl. und russ. Sprache
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