Röntgenographische Untersuchungen von Si1-xGex-Stranski-Krastanow-Inseln auf Silizium (001) / eingereicht von Thomas Wiebach
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| VerfasserIn: | |
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| Place / Publishing House: | Berlin, 2000 |
| Year of Publication: | 2000 |
| Language: | German |
| Physical Description: | 85 S.; zahlr. graph. Darst.; 30 cm |
| Tags: |
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| ac_no: | AC03046325 |
|---|---|
| Hierarchical level: | Monograph |
| Statement of Responsibility: | eingereicht von Thomas Wiebach |