Kristall und Technik : : [Fortsetzung: Crystal Research and Technology]. / Band 7, Heft 12.

• MitwirkendeR: Beleites, H.,; Bijvoet, J. M.,; Bublik, V. T.,; Bulakh, B. M.,; Burgers, W. G.,; Dashevsky, M. Ya.,; Escher, P.,; Fischer, R. M.,; Fröhlich, F.,; Fulrath, R. M.,; Gorelik, S. S.,; Hamann, C.,; Handeos, L. I.,; Hawkes, P. W.,; Hägg, E.,; Isaakjan, V. A.,; Khatsernov, M. A.,; Makeev, H. I.,; Malvinova, I. S.,; Melesko, L. O.,; Müller, B.,; Pekar, G. S.,; Rath, Robert,; Starke, M.,; Thomas, G.,; Voronov, I. N.,; Wagner, H.,
• Place / Publishing House: Berlin ;, Boston : : De Gruyter, , [2022]; ©1972
• Year of Publication: 2022
• Edition: Reprint 2022
• Language: German
• Series: Kristall und Technik ; Band 7, Heft 12
• Physical Description: 1 online resource (100 p.)

Table of Contents

• Frontmatter
• Hinweise für die Autoren
• Inhalt
• Originalbeiträge
• Effect of Growth Conditions on Formation and Properties of CdS Single Crystals at Dynamic Sublimation
• Zur Struktur von organischen Mischkristallschichten
• Autoradiographic Investigation on the Incorporation of Ca Ions in KCl Crystals during Kyropoulos Growth
• Untersuchung der linearen Kristallisationsgeschwindigkeit
• X-Ray Topographic Investigation of Silicon Single Crystals Heavily Doped with Sb
• X-Ray Topographic Investigation of Dendritic Silicon Crystals
• Ein röntgendiffraktometrisches Verfahren zur Korngrößenbestimmung
• Recommended Symbols for Industrial Crystallisation
• Buchbesprechungen
• Electron Microscopy and Structure of Materials
• Electron Optics and Electron Microscopy
• Theoretische Grundlagen der allgemeinen Kristalldiagnose im durchfallenden Licht
• Early Papers on Diffraction of X-rays by Crystals