Kristall und Technik : : [Fortsetzung: Crystal Research and Technology]. / Band 7, Heft 12.
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MitwirkendeR: | |
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Place / Publishing House: | Berlin ;, Boston : : De Gruyter, , [2022] ©1972 |
Year of Publication: | 2022 |
Edition: | Reprint 2022 |
Language: | German |
Series: | Kristall und Technik ;
Band 7, Heft 12 |
Online Access: | |
Physical Description: | 1 online resource (100 p.) |
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Other title: | Frontmatter -- Hinweise für die Autoren -- Inhalt -- Originalbeiträge -- Effect of Growth Conditions on Formation and Properties of CdS Single Crystals at Dynamic Sublimation -- Zur Struktur von organischen Mischkristallschichten -- Autoradiographic Investigation on the Incorporation of Ca Ions in KCl Crystals during Kyropoulos Growth -- Untersuchung der linearen Kristallisationsgeschwindigkeit -- X-Ray Topographic Investigation of Silicon Single Crystals Heavily Doped with Sb -- X-Ray Topographic Investigation of Dendritic Silicon Crystals -- Ein röntgendiffraktometrisches Verfahren zur Korngrößenbestimmung -- Recommended Symbols for Industrial Crystallisation -- Buchbesprechungen -- Electron Microscopy and Structure of Materials -- Electron Optics and Electron Microscopy -- Theoretische Grundlagen der allgemeinen Kristalldiagnose im durchfallenden Licht -- Early Papers on Diffraction of X-rays by Crystals |
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Format: | Mode of access: Internet via World Wide Web. |
ISBN: | 9783112653845 |
DOI: | 10.1515/9783112653845 |
Access: | restricted access |
Hierarchical level: | Monograph |