Electron backscatter diffraction in materials science / ed. by Adam J. Schwartz, Mukul Kumar, and Brent L. Adams

Saved in:
Bibliographic Details
HerausgeberIn:
Place / Publishing House:New York, NY [u.a.] : Kluwer Academic / Plenum Publ., 2000
Year of Publication:2000
Language:English
Subjects:
Classification:51.30 - Werkstoffprüfung. Werkstoffuntersuchung
Physical Description:XVI, 339 S.; Ill., graph. Darst.; 26 cm.
Notes:Literaturangaben
Tags: Add Tag
No Tags, Be the first to tag this record!
LEADER 01326nam#a2200409#c#4500
001 990003104620504498
005 20230602211113.0
007 tu
008 001120|2000####|||###########|||#u#eng#c
009 AC03081600
015 |a bA064390  |2 dnb 
020 |a 030646487X 
035 |a (AT-OBV)AC03081600 
035 |a AC03081600 
035 |a (Aleph)003077523ACC01 
035 |a (DE-599)OBVAC03081600 
035 |a (EXLNZ-43ACC_NETWORK)990030775230203331 
040 |b ger  |c 292  |d UBG  |e rakwb 
041 |a eng 
044 |c XA-GB 
082 0 |a 620.11299  |2 21 
084 |a 51.30  |2 bkl  |9 O: Automatisch aus GBV_2011-10 2012-06-04 
084 |a UQ 5500  |2 rvk  |9 O: Automatisch aus BVB_2013-06 2013-05-06 
090 |h h 
245 0 0 |a Electron backscatter diffraction in materials science  |c ed. by Adam J. Schwartz, Mukul Kumar, and Brent L. Adams 
264 1 |a New York, NY [u.a.]  |b Kluwer Academic / Plenum Publ.  |c 2000 
300 |a XVI, 339 S.  |b Ill., graph. Darst.  |c 26 cm. 
500 |a Literaturangaben 
650 0 |a Materials  |x Microscopy 
650 0 |a Scanning electron microscopy 
650 0 |a Crystallography 
689 0 0 |a Rückstreuspektroskopie  |D s  |0 (DE-588)4631462-3 
689 0 1 |a Werkstoffkunde  |D s  |0 (DE-588)4079184-1 
689 0 2 |a Aufsatzsammlung  |A f 
689 0 |5 AT-OBV  |5 ZBPZA. 
700 1 |a Schwartz, Adam J.  |4 edt 
970 1 |c 39 
974 0 u |V 020  |a b030646487x 
ADM |b 2024-03-16 16:14:37 Europe/Vienna  |d 20  |f System  |c marc21  |a 2018-12-24 09:36:03 Europe/Vienna  |g false