Untersuchung der atomaren Struktur der Oberflächen und Grenzflächen von III-V-Verbindungs-Halbleitern

Untersuchung der atomaren Struktur der Oberflächen und Grenzflächen von III-V-Verbindungs-Halbleitern / von Jörg Behrend

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Bibliographic Details
VerfasserIn:
Behrend, Jörg
Place / Publishing House:1996
Year of Publication:1996
Language:German
Subjects:
Drei-Fünf-Halbleiter (DE-588)4150649-2 Molekularstrahlepitaxie (DE-588)4170399-6 Rastertunnelmikroskopie (DE-588)4252995-5 RHEED (DE-588)4295703-5 Ellipsometrie (DE-588)4152025-7
Drei-Fünf-Halbleiter (DE-588)4150649-2 Festkörperoberfläche (DE-588)4127823-9 Struktur (DE-588)4058125-1
Physical Description:II, 124 S.; Ill., graph. Darst.
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Location:BASIS-Monographies
Call Numbers:26037-B
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