Einführung in die Kristallographie / / Joachim Bohm, Detlef Klimm, Manfred Mühlberg, Björn Winkler.

• Superior document: Title is part of eBook package: De Gruyter DG Plus DeG Package 2021 Part 1
• VerfasserIn: Bohm, Joachim,; Klimm, Detlef,; Mühlberg, Manfred,; Winkler, Björn,
• MitwirkendeR: Kleber, Will,
• Place / Publishing House: Berlin ;, Boston : : De Gruyter, , [2020]; ©2021
• Year of Publication: 2020
• Edition: 20., erweiterte Auflage
• Language: German
• Series: De Gruyter Studium
• Physical Description: 1 online resource (XVI, 516 p.)
• Other title: Frontmatter --; Inhalt --; Vorwort --; Einleitung --; 1. Kristallstrukturlehre und Kristallmorphologie --; 2. Kristallchemie --; 3. Beugungsmethoden und Kristallstrukturbestimmung --; 4. Kristallisation–Kristallwachstum–Kristallzüchtung --; 5. Kristallphysik --; 6. Defekte in Kristallen (Realstrukturen) --; Beantwortung der Fragen --; Literatur --; Stichwortverzeichnis
• Format: Mode of access: Internet via World Wide Web.
• ISBN: 9783110460247; 9783110750706; 9783110704518; 9783110704556
• DOI: 10.1515/9783110460247
• Access: restricted access
• Hierarchical level: Monograph
• Statement of Responsibility: Joachim Bohm, Detlef Klimm, Manfred Mühlberg, Björn Winkler.

Die 20., stark überarbeitete Auflage dieses bewährten Standardwerks behandelt grundlegend und umfassend sämtliche Teilgebiete der Kristallographie, wobei u. a.aktuelle Beugungsmethoden mit Neutronen und Synchrotronstrahlung erstmalig beschrieben werden. The 20th edition of this proven standard work has been completely revised to cover all areas of crystallography in a fundamental and comprehensive way. For the first time, it includes a discussion of current diffraction methods and synchrotron radiation.